Besseres RoHS-Compliance-Screening

Spectro Analytical Instruments präsentiert die dritte Produktgeneration des Mikro-RFA-Spektrometers Spectro Midex. Das neue Modell verfüge über einen starken Silizium-Drift-Detektor, der jetzt bis zu 250.000 Impulse pro Sekunde verarbeite und Analysen in einem Arbeitsabstand von 20 Millimetern ermögliche.

Spectro sieht für den Midex ein breites Einsatzgebiet vor: RoHS-Compliance-Screening, Analysen von Edelmetallen, Untersuchungen von kleinen Proben sowie Einschlüssen in Glas und Metall und forensische Analytik. Die Größe des Messpunkts lasse sich optional in Schritten zwischen 200 Mikrometer und 4 Millimeter einstellen. Bei Punktanalysen ermittle das Midex in zwei Minuten die komplette Zusammensetzung einer Probe.

Bei Mapping-Analysen lassen sich die Fahrwege auf einer Fläche von 240 auf 178 Millimeter frei programmieren. Für Punktmessungen wurde Spectro zufolge die Probenkammer mit einem integrierten Videosystem ausgestattet. So könnten Anwender den Messpunkt exakt platzieren und auch die analysierten Punkte im Videobild dokumentieren.

Das neue Midex unterstützt Herstellerangaben zufolge zwei Betriebsarten: In der Standardkonfiguration beträgt der Abstand zwischen der Anregungsquelle und dem Messpunkt zwei Millimeter. Dieser Modus eigne sich für schnelle Punktmessungen, etwa die Prüfung eines Kondensators auf einer Leiterplatte, sowie für Linescans und Mappings ebener Flächen mit großem Mess­punkt.

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